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YST系列测厚仪
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CIT-2000SM X射线荧光分析仪
浏览次数:2753       发布时间:

技术指标

参数

技术指标

分析元素

Ca、Fe、Mn、Cu、Pb、Zn、Mo、Ni等

元素含量分析范围

2-20Ke

分辨率

13%

样品用量

10克

样品粒度

120目以上

稳定性

0.002

检测时间

2分钟

分析误差

﹤1.0%

整机功耗

150W

工作环境温度

温度0-40℃

样品温度

<70℃

应用范围
   适用于各有色、黑色矿山、选矿厂、质检站、水泥厂、陶瓷厂、玻璃厂等化验室;适用于分析多种物料、如铁矿石、铜矿石、铅锌矿、黑生料、石灰石等。

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